當前位置:成語大全網 - 漢語詞典 - 如何檢測電路板上的未知芯片

如何檢測電路板上的未知芯片

使用電路板故障檢測器。

相關電路板故障檢測器的使用:

1.數字邏輯器件的性能測試(DC參數):

維修實踐表明,有些設備原來的功能仍然可以實現,但參數發生了變化,元器件性能很不穩定,設備或電路板仍然不能正常工作。因此,天匯公司開發了集成電路DC參數測試功能,支持數字集成電路輸入漏電流、輸出驅動電流等DC參數的測試。如輸入漏電流(Iih,IiL,Vih,ViL);輸出驅動電流(IOL、IOh、VOL、VOh)。

2.數字邏輯器件在線/離線功能測試:

能夠測試多邏輯級數字邏輯器件的在線/離線功能;測試器件庫龐大,僅邏輯數字器件就超過10000種。

測試範圍廣:TTL54/74系列,8000系列,9000系列,CMOS4000系列,俄羅斯器件,西門子器件庫。

3.ASA (VI)模擬特性分析測試:

ASA測試可以通過比較好電路板和故障電路板上對應器件管腳的特性曲線的差異來檢測故障,並可以將故障定位到電路節點。ASA測試不涉及器件的功能,無論哪種元器件,模擬的,數字的,已知的,未知的都可以測試;ASA測試是壹針壹針的進行,基本不受器件封裝的限制,任何封裝形式的器件都可以測試。ASA測試不需要給電路板加電。

使用起來更安全。

4.單/多端口VI曲線分析和對比測試:

裝置采用單端口或多端口VI曲線測試方法;單端口測試是指每個管腳對地提取壹次阻抗特性曲線,多端口是以任意管腳為參考提取壹次VI曲線。

5.ASA曲線雙桿動態比較試驗;

使用雙向探針對兩個相同電路板上的對應節點進行動態對比測試;當測試板上的器件不能用測試夾測試時,這種方法最有效。

6.ASA曲線測試智能提醒功能:

使用雙探頭進行對比測試時,如果誤差超差,儀器會發出報警聲,引起用戶註意。這種測試方法利用微電腦揚聲器產生類似萬用表嘟嘟聲的效果,提高了檢測效率,大大降低了勞動強度。

7.7的靈敏度。ASA測試曲線是可調的:

當ASA曲線趨勢趨於45度時,如果曲線的數據發生變化,曲線會發生明顯的變化,反映斷層的觀測靈敏度會更加準確。曲線反映出故障靈敏度與測試參數有關,適當調整測試參數可以得到更靈敏的曲線。該測試方法能夠自動搜索對故障敏感的曲線,有效提高故障檢測率。

8.ASA曲線測試參數可以根據引腳進行設置:

可以根據具體器件的測試需要,為不同的管腳設置不同的測試參數,可以設置任意管腳提取或不提取ASA曲線;測試的靈活性大大提高。

9.ASA曲線故障快速定位/搜索功能:

當VI測試中出現故障曲線時,測試儀提供快速曲線定位/搜索選項,使用戶觀察曲線更加方便直觀。

10.有效識別不穩定和困難的曲線;

增強了有效識別不穩定和困難曲線的判斷水平,降低了誤判率,進壹步提高了測試精度。

11.VI曲線參數值量化函數:

也就是說,可以從被測電路或器件的ASA曲線中獲取並保存相應的參數測試值,直接用寫字板或OFFICE工具軟件進行編輯或瀏覽。

12.求平均曲線的測試函數:

用戶可以先對多個設備進行測試,得到多個曲線文件,然後使用該功能將多個曲線文件平均成壹個曲線文件,作為以後測試的對比標準。

13.VI曲線雙板直接對比測試;

使用雙向測試夾同時提取、存儲和比較兩塊相同電路板(壹塊好板和壹塊壞板)上對應IC的VI曲線,測試效率極高。

14.三端設備測試:

完成三端分立元件的動態測試,如三極管、晶閘管、場效應管、繼電器等元件。

15.ASA曲線的各種排列/顯示模式:

顯示曲線可以按照比較誤差的降序、升序排列,也可以按照器件管腳的順序排列。曲線可以通過點擊或畫線來顯示,單個引腳的曲線可以獨立放大或縮小。

16.電容和電感的定量測量:

可直接離線精確測試電容器的容量和漏電阻,顯示電容器充放電時不同電阻值的過程;可以測試電感器的電感和串聯電阻;

17.電路板圖像數據庫測試:

通過數碼相機或掃描儀將好的電路板輸入電腦,可以在屏幕上對板上的所有集成電路芯片進行編號,使儀器知道器件的位置,然後可以對每個器件同時進行在線測試邏輯功能和VI曲線掃描,從而建立整板的測試庫。需要維修時,只需從電腦軟件中調出,即可直接對板卡進行診斷,適用於批量電路板的維修。

18.數字邏輯器件的在線狀態測試:

可提取11種復雜電路在線狀態,如開路、邏輯翻轉信號、非法電平、總線競爭等,對測試裝置外的電路具有很強的識別能力。

19.總線競爭信號隔離:

用於消除總線競爭,保證三態器件(如74LS373、74LS245等)的正確測試。)掛在總線上,並能提供8路總線競爭隔離信號。

上圖:電路板故障檢測儀。

20.IC型號識別:

對於型號不清楚或已擦除的設備,型號識別測試可以“在線”或“離線”進行。

21.LSI大規模集成電路的在線功能和狀態分析測試;

壹些常見的LSI器件可以通過學習和比較來測試。

22.讀寫記憶功能測試:

可以直接檢測存儲器SRAM/DRAM芯片的質量。這種測試不需要事先學習,有獨立的測試裝置庫,可以在線測試,也可以離線測試。

23.ROM功能測試:

可采用在線(離線)學習/對比測試方法。首先,將好板上的EPROM中的程序讀出並保存在計算機上,然後與壞板上同壹器件中的程序進行比較。測試結果位於存儲單元的地址,並打印出該地址的正確和錯誤代碼。

24.部件循環測試功能:

該功能可以重復測試數字邏輯器件、集成運算放大器、光耦等器件,直到出現錯誤或被終止,並且很容易發現某些器件的非固定故障(或軟故障)。

25.數字邏輯器件測試閾值可調功能:

閾值電平是指決定器件輸出是邏輯1還是邏輯0的閾值電平值。除了給出幾個常用的級別值供直接選擇外,還可以自定義。通過調整器件的閾值電平,可以發現器件驅動能力下降等壹些電路故障。

26.上電延遲的可選功能:

當被測電路板上的電源和地之間有壹個大的濾波電容時,可以使用該功能。該選項用於確定測試儀連接到外部電源後,開始測試前需要等待的時間。

27.測試夾鉗接觸檢查功能:

主要解決測試夾與被測器件接觸不良(如被測器件引腳氧化腐蝕、三防漆打磨不幹凈等)導致的測試誤判。).

28.運算放大器在線功能測試:

利用模擬信號測試運算放大器在線性放大區的工作特性,測試技術或國家發明專利,有獨立的測試器件庫,包括LM324、LM348等3000多種* * *表。

29.電壓比較器測試:

模擬電壓比較器用於判斷兩個信號之間的微小差異,該測試儀可以很容易地進行測試。

30.光電耦合器在線功能測試:

由於光耦是電流控制器件,用電流激勵信號進行測試,方法科學嚴謹,準確度高;有壹個獨立的光耦測試設備庫,

多達500多種。

31.光電耦合器離線DC參數測試;

主要DC參數(如光電轉換系數等。)可離線測試,解決了因器件參數變化而難以發現的故障現象,提高了故障檢出率。

32.UDT定制測試平臺:

測試儀的測試通道對用戶開放,用戶將激勵信號施加到被測元件或電路的輸入端,然後從輸出端采集響應信號,類似於函數發生器+示波器的測試方法。

33.UDT下AD和DA設備的功能測試:

用戶通過UDT控制智能測試儀,將數字和模擬激勵信號施加到被測設備(AD/DA)或電路的輸入端,並從輸出端檢索相應的響應信號。通過比較相同激勵信號下器件/電路的實測響應信號與預期(標準)響應信號的符合程度,實現故障檢測。

34.AFT電路故障跟蹤:

AFT可以看作是“信號發生器+示波器”測試方法的直接延伸。該測試儀可設置多種測試信號,並可將測試信號及好板電路對測試信號的響應存儲在電腦中――建立用戶自己的電路板測試庫,用於測試故障板;也可以同時給好板和壞板的電路加相同的測試信號,直接比較兩塊板的輸出結果。

35.電路板網絡測試:

利用模擬信號提取或比較電路板上任意元器件之間的連接關系,測試時無需上電,開/關閾值設置清晰。可以支持直接導入用戶的標準Protel網絡表文件,使網絡中的開路和短路測試更加方便快捷。

36.晶體管輸出特性曲線測試:

可以測量雙極晶體管的輸出特性曲線和MOS晶體管的跨導曲線。從曲線上可以檢查交流放大能力和均勻性,直接看到晶體管三個區域的具體情況:截止區、放大區、飽和區。可以用來篩選晶體管,尤其是晶體管成對的時候。

37.填寫表格以擴展模擬器件庫:

通過填寫表格來定義ADI公司的引腳狀態,如正輸入引腳、負輸入引腳、輸出引腳、正電源引腳、負電源引腳、接地引腳和其它狀態。

38.通過編程擴展數字設備庫:

采用HNDDL語言,適配技術完善;直接向用戶開放擴展程序,用戶可以自行添加測試器件庫。

39.組件快速檢查手冊(電子詞典):

元件庫容量近4萬種,為用戶提供元件名稱、引腳排列、包裝等信息。

40.維護日記:

用於記錄日常維護經驗、重要事件等。,長期保存這些資料,積累經驗,會大大提高維修水平和技巧。

41.後臺操作記錄:

測試儀會自動記錄測試過程和測試結果等信息。

電路板故障往往表現為系統啟動失敗、屏幕無顯示等。,難以直觀判斷。因此,我們應該掌握壹些檢測方法,以便及時發現和解決故障。電路板故障檢測儀是壹種能夠高效檢測電路板的儀器。